Pekin üniversitesinde çalışan Prof. Dr. Zhiyong Zhang ve öğrencileri, anne karnındaki bebeklerde, transistör (elektrik sinyallerini yükseltmede kullanılan bir tür devre elemanı) tabanlı, Down sendromunu tespit eden DNA sensörü geliştirdi.
İnsanlar 23 çift kromozoma sahiptir. Dünyada yaklaşık olarak her 800 bebekten birinde görülen Down sendromu, fazladan bir 21. kromozom olması durumunda ortaya çıkar. Günümüzde fetüslerin fazladan bir 21. kromozoma sahip olup olmadığını tespit etmek için kullanılan çeşitli yöntemler var.
Ancak bu yöntemlerin doğru sonuç verme oranları düşük. Anneye ya da bebeğe zarar verme potansiyelleri var. Ayrıca yavaş sonuç veriyorlar ve pahalılar.
DNA parçaları proba bağlandığında, transistör tabanlı sensörden geçen akım miktarında ölçülebilir değişimler oluyor. Anneden alınan kan örnekleriyle yapılan testte kullanılan cihaz, 10-16 mol/litre gibi çok düşük DNA yoğunluklarında bile büyük oranda doğru sonuçlar veriyor.
Geliştirilen cihazın kullanım alanı sadece Down sendromu ile sınırlı değil. Prob moleküllerini değiştirerek proteinler, virüsler, antikorlar ve nükleotidler için de benzer cihazlar üretmek mümkün.
Kaynak: Bilim ve Teknik